PHẦN THỨ HAI. PHƯƠNG PHÁP PHÂN TÍCH VẬT LIỆU BẰNG TIA X

Phương pháp phân tích dùng tia X nghiên cứu cấu trúc vật chất là một trong các phương pháp phổ biến nhất để nghiên cứu và đánh giá về vật liệu. Có thể nói rằng, phương pháp tia X có tầm quan trọng tương đương đối với vật liệu vô cơ như là phương pháp cộng hưởng từ hạt nhân (NMR) đối với các hợp chất hữu cơ. Trong nội dung phần này các phương pháp nhiễu xạ tia X (XRD), huỳnh quang tia X (XRF), quang phổ điện tử tia X (XPS) và phổ điện tử Auger (AuES) sẽ lần lượt được trình bày tại các Chương 6 đến Chương 9. Một số ví dụ ứng dụng cho các vật liệu điển hình cũng sẽ được trình bày tại phần này.