PHẦN THỨ BA. CÁC PHƯƠNG PHÁP PHÂN TÍCH HÌNH THÁI VÀ BỀ MẶT RIÊNG

Đánh giá hình thái học và bề mặt riêng của vật liệu sẽ cho một cái nhìn tổng quan, định tính và định lượng về đối tượng cần nghiên cứu. Với khả năng ghi ảnh ở độ phóng đại lớn và độ phân giải cao, các kỹ thuật hiển vi có thể cho phép quan sát vật liệu ở quy mô nguyên tử. Trong khi đó, phương pháp phân tích kích thước hạt và đánh giá bề mặt riêng của vật liệu sẽ cung cấp các thông tin định lượng về tính chất trên bề mặt lẫn bên trong các mao quản và vi mao quản. Trong nội dung phần thứ ba này, các phương pháp hiển vi điện tử (điện tử truyền qua và điện tử quét), phương pháp hiển vi đầu dò (xuyên hầm, nguyên tử lực, quang học quét trường gần), phương pháp xác định kích thước hạt bằng tán xạ ánh sáng động và phương pháp đánh giá bề mặt riêng vật liệu sẽ lần lượt được trình bày từ Chương 10 đến Chương 13.